淺談無(wú)損探傷設(shè)備
x-ray檢測(cè)設(shè)備的特點(diǎn)是可以在不破壞測(cè)試材料和結(jié)構(gòu)的情況下進(jìn)行測(cè)試。 因此,在實(shí)施無(wú)損檢測(cè)后,產(chǎn)品的檢驗(yàn)率很高。 但是并非所有需要測(cè)試的項(xiàng)目和指標(biāo)都可以進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),無(wú)損檢測(cè)技術(shù)有其自身的局限性。 某些測(cè)試只能使用破壞性測(cè)試,因此目前非破壞性測(cè)試無(wú)法替代破壞性測(cè)試。 也就是說(shuō),對(duì)于工件,材料,機(jī)器設(shè)備的評(píng)估,有必要將非破壞性測(cè)試和破壞性測(cè)試的結(jié)果進(jìn)行比較和配合,以進(jìn)行準(zhǔn)確的評(píng)估。
無(wú)損探傷設(shè)備是指不會(huì)損壞或影響材料或工件的未來(lái)性能或使用的一種檢測(cè)儀器。 它可以發(fā)現(xiàn)材料或工件和表面中的缺陷,并可以確定材料或工件的內(nèi)部組成結(jié)構(gòu)、物理特性和狀態(tài)。
x-ray檢測(cè)設(shè)備使用陰極射線管產(chǎn)生高能電子,以與金屬靶碰撞。 在碰撞過(guò)程中,由于電子的突然減速,失去的動(dòng)能將以X射線的形式釋放。 對(duì)于無(wú)法通過(guò)外觀檢測(cè)到樣品的位置,記錄X射線穿透密度不同的物質(zhì)后的光強(qiáng)度變化,由此產(chǎn)生的對(duì)比效果可以形成圖像以顯示待測(cè)對(duì)象的內(nèi)部結(jié)構(gòu) ,這可能是在破壞測(cè)試對(duì)象時(shí)觀察測(cè)試對(duì)象內(nèi)部的問(wèn)題區(qū)域。